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上海理工大学光电信息与计算机工程学院考试大纲

2015-09-06 14:54:42来源:新东方在线

  《应用光学》考试大纲

  一.基本要求

  学生应掌握几何光学的基本理论、光学系统的成像规律、常用光学零件的成像特性、光学系统光束限制的方法及类型、光学系统的像差概念、典型光路及光学系统的构成及工作原理等基础知识,具有光学系统的外形尺寸设计及计算的能力,并能根据对光学零件及光学系统的理解对列举的工程实际应用例子,反映出其较好地掌握了本课程的方法及应用。

  二.考试内容范围

  1.几何光学基本定律与成像概念

  三大基本定律及其应用;光路可逆性及其应用;全反射及其应用;光学系统的物像概念。2.共轴球面成像系统

  折射、反射球面的近轴光路计算;共轴球面系统的光路计算;三个放大率的计算及其关系。

  3.理想光学系统

  应用作图及解析法计算理想光组的物像;理想光学系统的基点与基面、放大率及其计算、理想光学系统的组合及等效光组计算,双光组组合的典型实例及其应用。

  4.透镜系统

  厚透镜的焦距及基点与基面的计算、透镜的组合及其计算。

  5.平面与平面系统

  平面镜的成像特性、反射棱镜的坐标变换特性及其展开、平行平板的像点位移、应用等效空气层计算光学系统的外形尺寸、折射棱镜与光楔的特点及其应用。

  6.光学系统中的光束限制

  光阑的作用和分类;孔经光阑入瞳出瞳的判断与计算;视场光阑的作用及渐晕计算;根据光束限制计算光学系统的外形尺寸;光学系统的景深的形成及其影响因素;远心光路的构成及其应用。

  7.像差理论

  各种几何像差的概念、定义、形成及其表现,几何像差曲线所简单反映的像差种类及其状况。

  8.典型光学系统

  眼睛的光学成像特点及其视力校正原理;放大镜、显微镜系统、望远镜系统的构成及其工作原理、系统基本参数的概念及其计算。

  9.现代光学系统

  能应用几何光学的基本理论理解扫描光学系统、光纤光学系统的工作原理。

  主要参考教材书

  《工程光学》郁道银、谈恒英主编,机械工业出版社,1999年

  《工程光学》,李湘宁主编,科学出版社,2005年

  三.试题类型

  闭卷笔试。

  《测控电路》考试大纲

  一、基本要求

  能够综合运用电子技术解决测量与控制中的任务,在电子技术与测量、控制间架起一座桥梁,熟悉典型测控电路的类型,组成和基本原理,掌握测控系统中的常用单元功能电路,了解测控电路的设计方法和运用技术。

  二、考试内容范围

  1、测控电路基本概念

  测控电路的功用、对测控电路的主要要求、测控电路的输入信号与输出信号、测控电路的类型与组成。

  2、信号放大电路

  运算放大器的误差及其补偿、典型测量放大电路、隔离放大电路。

  3、信号调制解调电路

  调幅式测量电路、调频式测量电路、调相式测量电路、脉冲调制式测量电路。

  4、信号分离电。

  滤波器基本知识、RC滤波电路。

  5、信号运算电路

  比例运算放大电路、加法运算电路、减法运算电路、对数运算电路、指数运算电路、乘除运算电路、微分积分运算电路、常用特征值运算电路。

  6、信号转换电路

  模拟开关、采样保持电路、电压比较电路、电压频率转换电路、电压电流转换电路、模拟数字转换电路。

  7、直传式细分电路

  8、电量测量电路

  频率测量、相位测量、脉冲参数测量。

  9、连续信号控制电路

  导电角控制逆变器、脉宽调制(PWM)控制电路、变频控制电路的基本原理与控制方式。

  10、二值逻辑控制与驱动电路

  主要参考教材书

  《测控电路》张国雄主编,机械工业出版社,2006年第2版

  三、试题类型

  闭卷笔试


本文关键字: 上海理工大学 考试大纲

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