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2021沈阳建筑大学材料分析测试技术考研复试大纲

2021-02-08 17:15:52来源：沈阳建筑大学

　　2021沈阳建筑大学材料分析测试技术考研复试大纲（同等学力加试）
　　一、考查目标
　　本科目主要考查学生对X射线、电子显微等近代分析测试技术研究材料微观组织、结构及成分分析的基本原理、仪器构造和应用范围等的掌握，并能对测试结果进行科学分析。
　　二、考试形式与试卷结构
　　（一）试卷满分及考试时间
　　试卷满分为100分，考试时间为2小时。
　　（二）答题方式
　　闭卷、笔试。
　　（三）试卷内容结构
　　X射线分析理论基础：占20%
　　X射线衍射方法及衍射分析：占30%
　　TEM分析：占10%
　　SEM分析：占25%
　　其它材料分析测试技术：占15%
　　（四）试卷题型结构
　　名词解释：20%
　　简答题：50%
　　论述题：30%
　　三、考查内容及要求
　　（一）X射线分析理论基础
　　1．X射线的本质及x射线谱；
　　2．X射线与物质的相互作用；
　　3．X射线衍射与布拉格方程；
　　4．倒易点阵；
　　5．X射线衍射强度与结构因数的计算。
　　要求：掌握X射线物理学基础（X射线本质、X射线谱、X射线与物质相互作用）；理解X射线运动学衍射理论，能够运用Ewald图解进行衍射分析，会进行衍射强度的计算，熟悉倒易点阵。
　　（二）X射线衍射方法及衍射分析
　　1．粉末照相法；
　　2．X射线衍射仪法；
　　3．物相的定性分析；
　　4．物相的定量分析；
　　5．X射线在材料测试分析方面的其他应用。
　　要求：掌握两种X射线衍射方法（粉末照相、多晶衍射仪法）；了解晶体取向的测定方法及分析步骤；能够进行点阵常数的测定；掌握多晶体物相分析并进行相应的定量计算；掌握宏观应力的测定。
　　（三）TEM分析
　　1． 电子与物质的交互作用；
　　2． 透射电镜的结构及应用；
　　3． 电子衍射及结构分析；
　　4． 材料薄膜样品的制备与薄晶体样品的衍衬成像原理。
　　要求：掌握电子与物质相互作用理论。熟练掌握TEM结构、原理、样品制备、金属薄膜的衍射分析。
　　（四）SEM分析
　　1． 扫描电镜工作原理、构造和性能；
　　扫描电镜在材料研究中的应用。
　　要求：了解扫描电镜的基本结构和工作原理；熟练掌握扫描电镜在材料分析中的应用（表界面、断口分析）。
　　（五）其它材料分析测试技术
　　1．热分析及应用；
　　2．波谱仪及应用；
　　3．能谱仪及应用；
　　4．电子探针分析方法及微区成分分析技术。
　　要求： 掌握热分析技术，熟练掌握波谱仪和能谱仪以及电子探针分析方法。
　　四、考试用具说明
　　考试需携带科学计算器。
　　五、参考书目或参考资料
　　《无机非金属材料测试方法》，杨南如，2005年重排本，武汉理工大学出版社
　　《材料分析方法》（第三版），周玉，2011年，机械工业出版社

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本文关键字: 材料分析测试技术考研复试大纲

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